测量频率4Hz-5MHz阻抗分析仪
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400
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