在设计阶段早期检测 EMC 问题(发射和抗扰度),此时设计更改 的成本仍然很低。
如果客户未能通过 EMC 测试,请查明 EMC 来源 测试实验室。
重复和一致的测量使设计备选方案之间的比较测量变得容易。
避免再次访问昂贵的认证测试实验室,从而节省时间和金钱。
通过消除内部 EMI 热提高您的设计质量 斑点。
强大的 EMC 热点可视化,适用于任何频率,在 功能强大且易于使用的 EMC 软件。
使用 Pendulum 探头套件以 2D 或 4D(3D + 场探头旋转)的步长 扫描,频率高达 10 GHz。
高精度激光测距选项,可将探头尖端保持在与 DUT 之间精确预设 的距离上。
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